关于我们 About Us
公司简介
企业文化
亚科动态
主要产品 Product Center
半导体设备
封测设备
SMT设备
高校科研设备
耗材及服务
应用领域 Application area
MEMS
化合物半导体
先进封装
合作品牌 Cooperative Brand
EVG
Bruker
Trymax
Centrotherm
Camtek
Nordson
其他
加入我们 Join us
联系我们 Contact Us
单面/双面光刻系统
晶圆键合系统
纳米压印光刻系统
测试与辅助工艺设备
所属分类:
光刻测试
产品附件:
产品简介:
EVG 40NT是一款主要用于CD尺寸测量和键合对准测量的设备,具有高精度,可作为EVG GEMINI FB中100nm键合精度的验证工具。
主要特点及参数:
·自上而下的显微镜流型测量
·对准精度测量
·CD尺寸测量
·多层厚度测量
·可作为单独的设备使用也可集成于EVG的大型工艺平台中